AOI һәм AXI арасындагы аерма

Автоматлаштырылган рентген тикшерүе (AXI) - автоматлаштырылган оптик тикшерү (AOI) кебек үк принципларга нигезләнгән технология. Ул күренмәле яктылык урынына рентген нурларын чыганак итеп куллана, гадәттә күренми торган объектларны автоматик рәвештә тикшерү өчен.

Автоматик рентген тикшерүе төрле тармакларда һәм кушымталарда кулланыла, нигездә, ике төп максат белән:

Процессны оптимальләштерү, ягъни тикшерү нәтиҗәләре эшкәртүнең киләсе адымнарын оптимальләштерү өчен кулланыла,
Аномалияләрне ачыклау, ягъни тикшерү нәтиҗәсе детальне (ломкага яки яңадан эшкәртүгә) кире кагу өчен критерий булып хезмәт итә.
AOI, нигездә, электроника җитештерү белән бәйле булса да (PCB җитештерүдә киң кулланылыш аркасында), AXI куллану даирәсенең күпкә киңрәк булуын күрсәтә. Ул эретмә дискларның сыйфатын тикшерүдән алып эшкәртелгән иттә сөяк кисәкләрен ачыклауга кадәр төрле өлкәләрне үз эченә ала. Билгеләнгән стандарт буенча бик охшаш әйберләр күп күләмдә җитештерелгән очракта, алдынгы сурәт эшкәртү һәм үрнәк тану программасы (Компьютер күрүе) ярдәмендә автоматик тикшерү сыйфатны тәэмин итү һәм эшкәртү һәм җитештерүдә уңышны арттыру өчен файдалы коралга әйләнде.

Рәсем эшкәртү программа тәэминаты үсеше белән автоматлаштырылган рентген тикшерүе кушымталары саны бик зур һәм даими рәвештә арта бара. Беренче кушымталар компонентларның куркынычсызлыгы аспекты җитештерелгән һәр детальне җентекләп тикшерүне таләп иткән тармакларда башланды (мәсәлән, атом электр станцияләрендә металл детальләр өчен эретеп ябыштыру җөйләре), чөнки башта технология бик кыйммәт дип көтелгән иде. Ләкин технологиянең киңрәк кулланылышы белән бәяләр сизелерлек төште һәм автоматлаштырылган рентген тикшерүе күпкә киңрәк өлкәгә ачылды - өлешчә куркынычсызлык аспектлары (мәсәлән, эшкәртелгән азык-төлектә металл, пыяла яки башка материалларны ачыклау) яки уңышны арттыру һәм эшкәртүне оптимальләштерү (мәсәлән, сырдагы тишекләрнең зурлыгын һәм урнашуын ачыклау, кисү үрнәкләрен оптимальләштерү) белән тулыландырылды.[4]

Катлаулы әйберләрне күпләп җитештерүдә (мәсәлән, электроника җитештерүдә), җитешсезлекләрне иртә ачыклау гомуми чыгымнарны кискен киметергә мөмкин, чөнки ул җитешсез детальләрнең киләсе җитештерү этапларында кулланылуына комачаулый. Бу өч төп файда китерә: а) ул материалларның җитешсез булуы яки процесс параметрлары контрольдән чыгуы турында мөмкин кадәр тизрәк хәбәр бирә, б) инде җитешсез булган компонентларга өстәмә кыйммәт өстәрүне булдырмый һәм шуңа күрә җитешсезлекнең гомуми бәясен киметә, һәм в) ул соңгы продуктның кыр җитешсезлекләре ихтималын арттыра, чөнки җитешсезлек сыйфат тикшерүенең соңгы этапларында яки функциональ сынаулар вакытында чикләнгән сынау үрнәкләре аркасында ачыкланмаска мөмкин.


Бастырып чыгару вакыты: 2021 елның 28 декабре